便携式镀层检测仪便携式镀层测厚仪原理
便携式镀层测厚仪采用xrf光谱法，该方法有如下有点
(1)  x射线荧光法（xrf）：能量x荧光光谱侧厚法(质量膜厚)
测试原理：xrf测厚是通过x射线激发各种物质的特征x射线，然后测量这被释放出来的特征x射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征x射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是绝对直线关系；通过标样和软件及算法（算法有fp法和经验系数法）得到一个最接近实际对应关系的曲线。
便携式镀层检测仪应用领域
耐磨镀层 如镀ni、镀cr、镀ni-w、ni-co、nip合金
减摩镀层 如镀sn、in、sn-in合金
热加工镀层 如防渗碳镀cu、防渗氮镀sn
反光镀层 如镀ag、光亮ni等
防反光镀层 如镀黑ni、镀黑cr等
导电镀层 如镀au、ag、sn、cu等
磁镀层 如镀ni-fe合金、ni-co合金等
抗氧化镀层 如镀cr、镀pt-rh合金
耐酸镀层 如镀zn、sn-pb合金等 

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