产品说明：
惠美hameg有源近场探.头套件hz540/hz550
hameghz540和hz550为有源近场探.头套件，设计用于在解决辐射问题时提供诊断帮助。这些套件分别由三个或五个不同的手持式探.头组成。它们拥有不同的灵敏度和接收特性，可结合各种频谱分析仪、emi接收机或示波器使用。
套件中包括磁场探.头以及一个用于测量电场信号的探.头。这些探.头覆盖了30mhz至3ghz的频率范围，提供了近场相关读数。探.头可直接通过hameg频谱分析仪供电，或通过任何6vdc电源来供电。
h场探.头提供了与磁场强度成正比的信号，这样就可以比较高的精度来确定干扰源的位置。e场探.头在这些探.头中灵敏度zui高，它可用于评估被测电路上的总体屏蔽效果。高阻抗探.头可用于测量触点上的信号，而不会使信号性能因探.头容量而下降。
这些探.头有助于对信号源进行kuai速识别。它可用于诊断来自电路板、集成电路、pc板边缘、接地层电流、带状电缆、角接缝以及类似干扰源的辐射。
hz540组成：
hz551电场探.头
hz552磁场探.头
hz553高阻抗探.头
1.2米长sma转n头线缆1条
箱子
操作手册
hz550组成：
hz540基本套装1套（hz551+hz552+hz553）
hz554磁场探.头1个
hz556有源天线1条
1.2米长sma转n头线缆1条
hz540l组成：
hz540l=hz540(无hz553)+hz555低电容探.头
hz550l组成：
hz550l=hz550(无hz553)+hz555低电容探.头
近场emi 测量的问题在于使用近场探.头的测量结果和使用天线进行远场测量的结果无法直接进行数学转换。但是存在一个基本原理：近场的辐射越大，远场的辐射也必然越大。所以使用近场探.头测量，实际上是一个相对量的测量，而不是精确的绝.对量测量。使用近场探.头进行 emi 预兼容测试时，我们常常把新被测件测试结果和一个已知合格被测件的近场探.头测试（近场测试）结果进行比较，来预测emi 辐射泄漏测试（远场测试）的结果，而不是直接和符合emi兼容标准的限制线进行比较。同时，测试的绝.对数值意义也不大，因为这个测试结果和诸多变量，包括探.头的位置方向、被测件的形状等会密切相关。
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