phasics利用四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2 nm rms）。这确保了uv镜头，表面和uv激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
sid4-uv 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，phasics的sid4 uv波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：250x250测量点
2.高灵敏度：2nm
3.直接测量：测量光学元件和发散光无需中继透镜
4.高性价比：光束和透镜测量高性价比解决方案
应用：
sid4 uv紫外波前传感器提供应用：
紫外激光器：光束测试与校正
紫外镜头的质量控制：个镜头的mtf和畸变，容易且准确的离轴测量
表面检查：曲率半径，三维形状
sid4 uv产品参数：
波长范围
250 - 400 nm
通光孔径
7.4 x 7.4 mm2
空间分辨率
29.6 µm
采样点（相位/强度）
250 x 250 (> 62 500 points)
相位相对灵敏度
2 nm rms
相位精度
10 nm rms
动态范围
200 µm
采样频率
> 30 fps
实时分析频率
>2 fps (full resolution)
数据接口
giga ethernet
尺寸(w x h x l)
45 x 30 x 100 mm
重量
~250 g
相关产品：phasics , sid4 , uv , 波前传感器 , 波前分析仪 , sid4
上海屹持光电技术有限公司
15618996225