目前，人们获取叶面积指数的通用方法大致分为直接法和间接法两种。直接法：是指采用不同的手段。如称重法、格子法、扫描法、模型法对离体的叶片直接进行面积测量得出lai值。间接法：指的是采用不直接接触叶片的不同方法，如辐射法、网格法、图像法等手段，先取得冠层的“孔隙度”，然后利用比尔定律推演模型，在一系列假设的基础上计算出叶面积指数。
直接法的优点是叶片面积值的测定直观准确，且无论何种冠层结构类型都可以采用。缺点是必须破环冠层结构，无法在同一样品点连续动态的观测。观测的工作量大，效率低。
间接法的优点是不破坏冠层，可以同点连续观测，但由于数学模型假设条件的限制，同一种模型内的准确性和重复性不够理想。
那么，如何准确而又快速地测定lai呢？我们建议，可以将两种方法结合起来。对于一个特定的结构（如，盛花期的棉花田），限定一个面积范围，然后用剪下面积内的所有叶片（如果一个叶片一部分在范围内，另一部分在范围外，则取在范围内的部分）。然后用托普云农top-1300叶面积指数测定仪测得总面积。将面积总值除以面积值便得lai。选取3～5样品点重复上述测量，求得lai的平均值做为次冠层的lai（a值）。随后，用托普云农冠层仪获取上述样品点的平均lai（b值）。
然后，a/b=k,k值做为两种方法的修订系数。在随后的测试中采用间接法以提高实验效率，减少工作量。
由此可见,托普云农叶面积指数测定仪也可以单独用来做为测量叶面积指数(lai) 的工具。用户在选购冠层仪时可以根据自己的需要灵活选择。
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