- 加工定制:
- 品牌:calmetrics
- 型号:Au/Ni/Cu/Ag/Cu/Fe/Sn/Zn
- 类型:金属元素分析仪器
- 测试范围:0-300mm
- 测量时间:
- 测量精度:0.01
- 电源电压:
- 适用范围:镀层测厚仪
大量现货供应,欢迎订购:,qq:240212740,e-
x射线测厚仪标准校正片,建档标准片,校正标准片,x射线标准校正,美国calmetrics膜厚仪标准片calibration standard:x射线测厚仪标准片 镀层标准片膜厚片 测厚仪标准片其专门为仪器大厂如fischer、oxford(cmi)、thermo、veeco、micropioneer、seiko等生产制作标准样品。适用于fischer、oxford、cmi、thermo、veeco、micropioneer、seiko等各厂牌x-ray(x射线测厚仪)、β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。特色:标准片a2la校正认证,质量精良,精度高、稳定性好x-ray、β-ray、磁感式、涡电流式专用标准片测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片,专业用于x射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。 x射线测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:ag/xx,双镀层:au/ni/xx,三镀层:au/pd/ni/xx,合金镀层:sn-pb/xx, 化学镀层:ni-p/xx。(所有标准片都附有nist证书)我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值nist证书.
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何宪梅
13420947400
深圳市福田区梅华路深华科技工业园