数字振动控制器vcsusb-2
digital vibration controller (sine/random/shockcontrol)vcsusb-2
硬件state-of-the-art hardware
输入通道input channels：1~2analog
输出通道drive channel：1 drive channel
dsp处理器：450mhz
工作温度working temperature：-30~70℃
冷却方式cooling：风冷
抗混叠滤波：160db/octave
辅助通道：1 aux channel
ad转换：24-bit adc/dac，
动态范围dynamic range：＞130db
采样频率：204.8khz采样频率 振动台，分析频宽：80khz
内存空间：1gb内部闪存空间
先进的浮点设计：floating ground design reduces ground loop problems
控制功能classical control functions
正弦控制sine、随机控制random、共振搜索与驻留rstd、经典冲击classical shock、
正弦加随机控制sor、随机加随机控制ror、正弦加随机加随机控制sror、多正弦控制(multi-sine)、冲击响应谱分析(srs)、道路谱模拟fdr-lth、瞬态冲击（地震波模拟）fdr-tth
恒加速度试验机是做模拟离心运动的方法 电磁式振动试验台，主要作为考核设备、元器件的抗荷性能及检测抗荷性能指标的试验设备。
主要用于对飞行器上的元器件、小部件和小型整机做例行动态结构完好性及适应性试验。并且可在元器件的制造过程中做百分之百筛选试验，检测和剔除任何结构部件低于标称值的器件，用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受稳态加速度（恒加速度）环境所产生的力（重力除外）作用下，结构的适应性和性能是否良好光电专用振动台，以及评定一些元器件的结构完好性汽车连接器振动台，并且可在恒加速度环境下考核产品的电性能参数。
恒加速度试验也可用来测试对微电子器件的影响，其目的是显示在冲击和振动试验时不一定能检测出的结构和机械的缺陷，也可用作高应力试验来测定封装、内部金属化和引线系统、芯片或封底附着能力及微电子器件其他部件的结构强度极限值
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