特性:
联业和独特的通用ic测试座系统可以很便捷地针对任何封装、任何大于0.2mm的间距对ic测试座进行配置,并且很少或没有模具费用或额外的交货时间。
用于csp, μbga, bump-array, qfn, qfp, mlf, dfn, ssop, tssop, tsop,sop, soic, lga, lcc, plcc, to和任何smt封装样式的测试和老化。也可以兼容pga封装器件。
快速、简单的测试探针更换系统:成套测试探针可以移除和新的成套测试探针(插入器)可以快速轻松地插入使用。旧的探针可以返回工厂维修,并很快发回。
通过压力实现贴装，不需要焊接。
测试中的信号通路只有0.077[1.96]。
ic测试座能容纳任何小于27mm的封装器件。
通用规范:
塑造ic测试座组件: ul 94v-0，聚醚醚酮和/或聚醚酰亚胺
1 db带宽: 10.1 ghz(0.8毫米间距，大探针)
探针电感:0.51 nh (@ 0.50 mm间距)
接触电阻: < 40 mω
压缩弹簧探针: 热处理,铍铜
压缩弹簧探针电镀: 热处理,铍铜30μ min。[0.75μ]金/mil-g-45204 30μ min; [0.75μ]ni /sae ams-qq-n-290b.
预计接触寿命: 500000次循环。
接触力：
:6克/ 间距0.20 –0.29毫米
:15克/间距0.30 –0.35毫米
:16 克 /间距0.40 –0.45毫米
:25克/间距0.50 –0.75毫米
:25 克/间距0.80毫米或更大
工作温度: – 55°c至150°c。
固件：不锈钢
安装注意事项:
需要四个#4 – 40螺丝(提供)和pem螺帽 (不提供) 安装。安装孔尺寸可能有所不同，取决于所选择的pem螺母
注意:在把ic测试座从pcb板上安装或移除时，要小心，避免损坏测试探针。
测试pcb最小直径“g”
: 0.64(0.80 mm间距大探针)
: 0.38(0.50 – -0.79毫米间距小探针)
: 0.31(0.40 – -0.49毫米间距小探针)
: 0.23(0.30 – -0.39毫米间距小探针)
: 0.10(0.20 – -0.29毫米间距小探针)
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苏州联业和精密科技有限公司
范先生
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