加工定制否 | 类型高频热压机 |
品牌AD/亚德诺 | 型号thisis型号 |
电源电压thisis电源电压V | 别名别名1984 |
用途用途4932 | 功率功率3538W |
工作气压工作气压1043Mpa | 热压时间热压时间9633s |
热电偶类型热电偶类型4324 | 外形尺寸外形尺寸2789mm |
重量重量5853kg | 规格规格2916 |
目前市面上有多种老化测试系统实现方法,除了老化系统生产厂商制造的通用型产品外,半导体厂商也在内部开发了一些供他们自己使用的此类系统。大多数系统都采用电脑作主机,用于数据采集和电路基本控制,而一些非计算机系统只能用led作为状态指示器,需要人工来收集数据。
为了能对老化板上的每一器件作独立测试,必须要在老化系统控制下将每个器件与其他器件进行电性隔离。存储器件非常适合于这种场合,因为它们被设计成按簇方式使用并带有多路选通信号,而逻辑器件则可能无法使用选通信号,这使得在老化系统中设计通用逻辑测试会更难一些。因此针对不同器件类型存在不同的逻辑老化系统是很正常的。
老化测试系统可归为两大类:逻辑器件和存储器。逻辑器件测试系统又可分为两类:并行和串行;同样,存储器测试系统也可分为两类:非易失性和易失性。
存储器老化
存储器老化和测试的线路实现起来相对简单一些,所有器件通过统一方式写入,然后单独选中每个器件,将其存入的数据读出并与原来的值对照。由于具有控制和数据采集软件以及故障数据评估报告算法,所以存储器老化测试对生产商非常有用。
大多数存储器件支持多个选通引脚,因而老化测试系统采用簇方式读回数据。某些系统具有很宽的数据总线,每一簇可同时读取多个器件,再由电脑主机或类似的机器对器件进行划分。增加老化板上的并行信号数量可提高速度,减少同一条并行信号线所连器件数,并且降低板子和器件的负载特性。
在试验室内完整而地再现自然界存在的环境条件是可望而不可及的事情。但是,在一定的容差范围之内,人们完全可以正确而近似地模拟工程产品在使用、贮存、运输等过程中所经受的外界环境条件。这段话用工程的语言概括,就是“试验设备所创造的围绕被试产品周边的环境条件(含平台环境)应该满足产品试验规范 所规定的环境条件及其容差的要求”。如用于产品试验的温度箱不仅要满足国军标gjb150.3-86、gjb150.4-86中根据不同的均匀性和温度控制精度的要求。只有这样,才能保证在环境试验中环境条件的再现性。
老化房就是针对高性能电子产品出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。