荧光测量的光信号一般比较微弱，需排除激发光对测试结果的影响，因此一般采用大狭缝、灵敏的探测器和高效率的滤光片。标准的激发光源采用脉冲氙灯或激光。
薄膜厚度测量系统测量的数据是样品对不同波长反射率曲线，这样就可以在已知薄膜厚度、折射率二者之一的情况下推导出另一者。
hpf系列光谱仪测量薄膜厚度
捷扬光电的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的捷扬光谱分析软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到excel文件进行过程控制。
捷扬光电hpf系列光纤光谱仪的应用
捷扬光电的微型光纤光谱仪凭借其本身的特点,现已广泛的应用于工业、农业、生化制药、地质、冶金、食品检验和环保等领域。该法已成为金属元素分析的最有力手段之一。而且在许多领域已作为标准分析方法,如化学工业中的水泥分析、玻璃分析、石油分析、电镀液分析、食盐电解液中杂质分析、煤灰分析及聚合物中无机元素分析;农业中的植物分析、肥料分析、饲料分析;生化和药物学中的体液成分分析、内脏及试样分析、药物分析;冶金中的钢铁分析、合金分析;地球化学中的水质分析、大气污染物分析、土壤分析、岩石矿物分析;食品中微量元素分析。
捷扬光电在光谱检测方面深入研究，其微型光纤光谱仪深受用户广泛欢迎。捷扬光电口号是：创新光谱 捷扬科技。
东莞捷扬光电科技研发生产高精度光谱仪器，主营微型光谱仪，膜厚检测仪，显微透过率检测仪，显微反射率检测仪，显微激光诱导荧光检测仪，显微激光诱导拉曼检测仪。透过率检测仪，近红外水分仪。
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