便携式四探针测试仪（电阻率：0.01～1999.9ω.cm，方块电阻：0.1～19999ω/，可扩展，主机，ft201探
货号：pn000878
产品资料
便携式四探针测试仪（电阻率：0.01～1999.9ω.cm，方块电阻：0.1～19999ω/，可扩展，主机，ft201探头，四探针测试台）
本仪器广泛应用于太阳能单晶（多晶）生产厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 a.s.t.m 标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ito导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
 rts2测量范围
 电阻率：0.01～1999.9ω.cm；   方块电阻：0.1～19999ω/□；
rts2a测量范围
 电阻率：0.001～199.99ω.cm；   方块电阻：0.01～1999.9ω/□；
rts2恒流源
 电流量程分为100μa、1ma两档，各档电流连续可调
rts2a恒流源
 电流量程分为1ma、10ma两档，各档电流连续可调
数字电压表
 量程及表示形式：000.00～199.99mv；　　　　 分辨力：10μv； 输入阻抗：>1000mω； 精度：±0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；
四探针探头基本指标
 间距：1±0.01mm； 针间绝缘电阻：≥1000mω；  机械游移率：≤0.3%； 探针：碳化钨或高速钢ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数
 (见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差( 按jjg508-87进行)
 1ω、10ω、100ω小于等于0.3%±1字
整机测量**相对误差
(用硅标样片：0.01-180ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度
 ≤5%
外型尺寸
 125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)
标准使用环境
 温度：23±2℃； 相对湿度：≤65%； 无高频干扰； 无强光直射；
------分隔线----------------------------
上一篇：四探针测试仪（主机、s2a 测试台、ft201探头，带软件）下一篇：便携式四探针测试仪（电阻率：0.001～199.99ω.cm，方块电阻：0.01～1999.99ω/□，可扩展，主机，f

---

北京亚兴泰机电设备有限公司
王经理
15611826240