bruker’s dimension® icon™原子力显微镜（afm）系统引进新的性能，功能和afm以用于科学和工业的纳米级研究。最新dimension系统建立在世界最广泛应用的大范围样品afm平台的基础上，开创了十年间技术革新、客户反馈和工业顶级应用灵活性的高潮。这个系统从上到下的设计，显示出革命性的低漂移低噪音性能，能够使用户在几分钟内获得无伪影成像，而不再需要几分钟。dimensionicon系统配置有专有scanasyst™原子成像优化技术，可以简易地快速稳定成像，而忽略使用者的技术水平。最高级别的afm研究从未轻松实现基本生产力收益。
基本性能
●  专利传感器设计实现了与开环噪音水平一样的闭环性能，用于大型样品前所未见的分辨率测试和针尖扫描afm
●  显著减小基底噪音，能够在接触模式下以原子力水平成像，tappingmode™中少于30pm
●  漂移率小于每分钟200pm，产生无扭曲图像
优越的生产率
●  综合反馈对准工具带来快速优化的探针配置
●  高分辨率相机和x-y配置带来快速高效的样品导航性能
●  新型scanasyst成像和带有默认试验模式的nanoscope®软件，将十年的知识精华融入这个预先配置设置中
优秀的多功能性
●针尖和样品的开放性入口，可进行大量的标准
性和定制性实验
●   仪器和软件设计利用了所有当今和未来新进的先进的模式和技术
●   用户实用程序脚本提供了半自动测量和分析性能

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