主要应用范围： 轻元素分析，元素分析可从na至urohs有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量镀液
分析、黄金等贵金属鉴定
x射线管： 50w(4-50kv 0 -1.0ma)标配 75w(4-50kv 0 -1.5ma)可选
探测器： 硅锂半导体探测器 滤光器： 一次滤光
准直器： ф8mm、ф3mm、ф2mm、ф1mm、ф0.5mm、ф0.2mm、ф0.1mm，多种准直器可选
样品观察： ccd高精度彩色摄像头 对焦系统： 利用旋钮视觉对焦
测量方向： 从下向上 样品台： 固定样品台，超大式样室
可测元素： na到u 测试时间： 元素含量：60-300s
元素含量分析指标：分析范围：1ppm-99.99% 准确度：5%
精确度：0.1% 检出限：1ppm
镀层厚度的检测指标：准确度：第一层5%，第二层10% 精确度：0.1%
检出限：0.01μm 测试软件： 基本参数法
定性功能： 自动标示存在元素
定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
报告结果： 自动生成 数据处理： ms-exce
昆山三友新天机电科技有限公司
张月琦
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