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对于led、雷射、光伏电池、场效晶体管等塑料电子装置(plastic electronics)的设计者而言，了解几有机半导体的形貌对于提升系统性能极为重要，然而这类材料往往是由不同的分子混合而成，要分辨它们极为困难，不过最近德国及意大利科学家发展出一种利用光谱仪来分析奈米级形貌的方法，可望解决上述难题。 
由bax born研究所、欧登堡大学(ossietzky unifersity of oldenburg)及米兰科技大学组成的研究小组发展出一种吸收光谱仪，可以观察高分子或其它光电材料的局部组成变化，其空间分辨率高达100 nm。最令人振奋的是，该装置的操作速度相当快。欧登堡大学的christoph lienau表示，该小组采用宽带光圆及特殊的ccd光谱仪，在不到0.1秒的时间内纪录空间中一点的透射频谱，这代表他们可以在15分钟内取得100×100的局部吸收光谱，由于时间够短，因此可大幅降低照光对样品的伤害。 
该小组的装置包含近场扫描式显微镜(nsom)光圈及宽带的ti:sapphire雷射，可以取得波长650至950 nm的吸收光谱。lienau指出，他们采用ti:sapphire雷射是因为相较于超连续光谱光源(supercontinnum source)，前者的光谱较均匀也较稳定。不过由于超连续光谱光源的频宽更宽，所以该小组目前正以它进行实验。 
为了进一步提高将上述光谱仪的分辨率，该小组计划以更尖的金或钨针尖来取代原本镀金属的光纤探针。根据lienau的说法，此举将使分辨率由100 nm推进至20 nm或更小。

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