金属材料一般是指工业应用中的纯金属或合金。自然界中大约有70多种纯金属，其中常见的有铁、铜、铝、锡、镍、金、银、铅、锌等等，不同的组成性能各不相同的。
金属材料内部主要检测项目如下：
1、机械性能：主要包括(拉伸试验、高低温拉伸试验、 压缩试验、剪切试验、扭转试验、弯曲试验、冲击试验、洛氏硬度试验 、布氏硬度试验、维氏硬度试验、压扁试验 ;
2、化学成分分析：主要分析金属材里的各种化学成分含量(碳, 硅, 锰, 磷, 硫, 镍, 铬, 钼, 铜, fan, 钛, 钨, 铅, 铌, 汞, 锡, 镉, 锑, 铝, 镁, 铁, 锌, 氮, 氢, 氧 );
3、金相测试：主要包括(非金属夹杂物、低倍组织、晶粒度、断口检验、镀层厚度、硬化层深度、脱碳层、灰口铸铁金相、球墨铸铁金相、金相切片分析;
4、镀层测试：常用方法为，镀层测厚-库仑法、镀层测厚-金相法、镀层测厚-涡流法、镀层测厚-射线荧光法、镀层成分分析和表面污点分析;
5、腐蚀测试：包括中性盐雾试验 、酸性盐雾试验、铜离子加速盐雾、腐蚀试验、硫化氢腐蚀试验、混和气体腐蚀实验、不锈钢10%草酸浸蚀试验、不锈钢硫酸-硫酸铁腐蚀试验、不锈钢腐蚀试验、不锈钢氢氟酸腐蚀试验、不锈钢硫酸-硫酸铜腐蚀试验、不锈钢5%硫酸腐蚀试验;
6、无损探伤：包括超声波检测、射线检测、磁粉检测、渗透检测;
7、尺寸测试：包括尺寸测量、对称性、垂直度、平整度、圆跳动、同轴度、平行度、圆度、粗糙度;
8、焊接工艺评定：包括拉伸测试、弯曲测试
(面弯背弯侧弯)、超声波检测、射线检测、磁粉检测、渗透检测、表面目测、宏观组织检测、焊缝硬度测试、冲击测试。
9、失效分析包括：失效分析的程序和步骤、对失效事件进行調查、确定肇事件或者首先失效件、仔细收集失效件残骸并妥善保管、收集失效件背景资料、确定失效分析方案并制定实施细节、检查、测试与分析。
电气性能筛选:为保证电子产品稳定可靠，对上机的元器件进行筛选是一个重要环节。筛选时要按元器件使用要求，对电子元器件施加一种或多种应力使其缺陷暴露，排除早期失效。筛选试验及施加应力要在合适范围，使有缺陷元器件失效，质量好的元器件会通过试验。
1、元器件效能曲线
电子元器件的效能曲线，即浴盆曲线，反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时，会因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷导致失效率较高。元器件使用一段时间后，元器件的失效率较低，即偶然失效期。过了正常使用期后，元器件进入老化失效期，即损耗失效期，该元器件时间工作寿命结束在老化失效期，元器件的失效率增高。
2、电子元器件的筛选和老化
元器件的老化的筛选，应人为制造元器件早期工作条件，使元器件处在模拟的工作伏态下，把早期失效的产品在使用前剔除，提高产品的可靠性。在生产过程中，筛选老化包括高温存储老化，高低温循环老化，高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高，要按不同产品要求，国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。对于可靠性要求极高的电子产品或设备中使用的典型元器件，需进行筛选，对要求不高的民品中使用的元器件，要采用抽样检测方式;对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件，应采用自然老化和简易电老化方式。
3、参数性能检测
经外观检查及老化的电子元器件，要进行性能指标的测试，淘汰已失效的元器件。检测前，应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。要求有多种通用或专门测试仪器，一般性的电子设计或电子设备中使用的元器件，应运用万用表等普通仪表检测。
电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件，设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要，这也是电子维修人员必须掌握的技能。我在电器维修中积累了部分常见电子元器件检测经验和技巧，供大家参考。
1.测整流电桥各脚的极性
万用表置r×1k挡，黑表笔接桥堆的任意引脚，红表笔先后测其余三只脚，如果读数均为无穷大，则黑表笔所接为桥堆的输出正极，如果读数为4～10kω，则黑表笔所接引脚为桥堆的输出负极，其余的两引脚为桥堆的交流输入端。
2.判断晶振的好坏
先用万用表(r×10k挡)测晶振两端的电阻值，若为无穷大，说明晶振无短路或漏电;再将试电笔插入市电插孔内，用手指捏住晶振的任一引脚，将另一引脚碰触试电笔頂端的金属部分，若试电笔氖泡发红，说明晶振是好的;若氖泡不亮，则说明晶振损坏。
3.单向晶闸管检测
可用万用表的r×1k或r×100挡测量任意两极之问的正、反向电阻，如果找到一对极的电阻为低阻值(100ω～lkω)，则此时黑表笔所接的为控制极，红表笔所接为阴极，另一个极为阳极。晶闸管共有3个pn结，我们可以通过测量pn结正、反向电阻的大小来判别它的好坏。测量控制极(g)与阴极[c)之间的电阻时，如果正、反向电阻均为零或无穷大，表明控制极短路或断路;测量控制极(g)与阳极(a)之间的电阻时，正、反向电阻读数均应很大;
测量阳极(a)与阴极(c)之间的电阻时，正、反向电阻都应很大。
4.双向晶闸管的极性识别
双向晶闸管有主电极1、主电极2和控制极，如果用万用表r×1k挡测量两个主电极之间的电阻，读数应近似无穷大，而控制极与任一个主电极之间的正、反向电阻读数只有几十欧。根据这一特性，我们很容易通过测量电极之间电阻大小，识别出双向晶闸管的控制极。而当黑表笔接主电极1。红表笔接控制极时所测得的正向电阻总是要比反向电阻小一些，据此我们也很容易通过测量电阻大小来识别主电极1和主电极2。
5.检查发光数码管的好坏
先将万用表置r×10k或r×l00k挡，然后将红表笔与数码管(以共阴数码管为例)的“地”引出端相连，黑表笔依次接数码管其他引出端，七段均应分别发光，否则说明数码管损坏。
6.判别结型场效应管的电极
将万用表置于r×1k挡，用黑表笔接触假定为栅极g的管脚，然后用红表笔分别接触另外两个管脚，若阻值均比较小(5～10
ω)，再将红、黑表笔交换测量一次。如阻值均大(∞)，说明都是反向电阻(pn结反向)，属n沟道管，且黑表笔接触的管脚为栅极g，并说明原先假定是正确的。若再次测量的阻值均很小，说明是正向电阻，属于p沟道场效应管，黑表笔所接的也是栅极g。若不出现上述情况，可以调换红、黑表笔，按上述方法进行测试，直至判断出栅极为止。一般结型场效应管的源极与漏极在制造时是对称的，所以，当栅极g确定以后，对于源极s、漏极d不一定要判别，因为这两个极可以互换使用。源极与漏极之间的电阻为几千欧。
7.三极管电极的判别
对于一只型号标示不清或无标志的三极管，要想分辨出它们的三个电极，也可用万用表测试。先将万用表量程开关拨在r×100或r×1k电阻挡上。红表笔任意接触三极管的一个电极，黑表笔依次接触另外两个电极，分别测量它们之间的电阻值，若测出均为几百欧低电阻时，则红表笔接触的电极为基极b，此管为pnp管。若测出均为几十至上百千欧的高电阻时，则红表笔接触的电极也为基极b，此管为npn管。
在判别出管型和基极b的基础上，利用三极管正向电流放大系数比反向电流放大系数大的原理确定集电极。任意假定一个电极为c极，另一个电极为e极。将万用表量程开关拨在r×1k电阻挡上。对于：pnp管，令红表笔接c极，黑表笔接e极，再用手同时捏一下管子的b、c极，但不能使b、c两极直接相碰，测出某一阻值。然后两表笔对调进行第二次测量，将两次测的电阻相比较，对于：pnp型管，阻值小的一次，红表笔所接的电极为集电极。对于npn型管阻值小的一次，黑表笔所接的电极为集电极。
8.电位器的好坏判别
先测电位器的标称阻值。用万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端(设“2”端为活动触点)，其读数应为电位器的标称值，如万用表的指针不动、阻值不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。再检查电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆挡测“1”、“2”或“2”、“3”两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，此时电阻应越小越好，再徐徐顺时钟旋转轴柄，电阻应逐渐增大，旋至极端位置时，阻值应接近电位器的标称值。如在电位器的轴柄转动过程中万用表指针有跳动瑚象，描踢活动触』点接触不良。
9.测量大容量电容的漏电电阻
用500型万用表置于r×10或r×100挡，待指针指向蕞大值时，再立即改用r×1k挡测量，指针会在较短时间内稳定，从而读出漏电电阻阻值。
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