• 可与双晶和单晶探头兼容。
• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
• 内部氧化层/沉积物软件选项。
• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
• 使用频率范围为2.25 mhz～30 mhz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 厚度、声速和渡越时间测量。
• 差分模式和缩减率模式。
• 时基b扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
• 带有数字式过滤器的olympus高动态增益技术。
• 用于自定义v声程补偿的v声程创建功能。
• 设计符合en15317标准。
这款测厚仪与其他测厚仪有何不同？
38dl plus测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38dl plus都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合ip67评级标准、带有橡胶保护套的38dl plus正是您要寻找的仪器。
技术规格
测量
双晶探头测量模式
从激励脉冲后的精确延时到*一个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式
利用单个底面回波（使用d7906-sm和d7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式
在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式
模式1：激励脉冲与*一个底面回波之间的时间间隔。
模式2：延迟线回波与*一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
模式3：在激励脉冲之后，位于*一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
上海斌瑞检测技术服务有限公司
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