| 加工定制否 | 类型高频热压机 |
| 品牌AD/亚德诺 | 型号thisis型号 |
| 电源电压thisis电源电压V | 别名别名3986 |
| 用途用途3467 | 功率功率9095W |
| 工作气压工作气压4481Mpa | 热压时间热压时间1303s |
| 热电偶类型热电偶类型4206 | 外形尺寸外形尺寸6725mm |
| 重量重量4503kg | 规格规格6932 |
集成电路损坏的特点
集成电路内部结构复杂，功能很多，任何一部分损坏都无法正常工作。集成电路的损坏也有两种：彻底损坏、热稳定性不良。彻底损坏时，可将其拆下，与正常同型号集成电路对比测其每一引脚对地的正、反向电阻，总能找到其中一只或几只引脚阻值异常。对热稳定性差的，可以在设备工作时，用无水酒精冷却被怀疑的集成电路，如果故障发生时间推迟或不再发生故障，即可判定。通常只能更换新集成电路来排除。
输出信号要确保能够对需作老化的任何器件类型进行处理。如果老化板加载有问题，可以将其分隔成两个或更多的信号区，但是这需要将驱动板上的信号线数量增加一倍。大多数并行输出信号利用专用逻辑、预编程eprom、或可重编程及可下载sram产生，用sram的好处是可利用计算机重复编程而使老化系统适用于多种产品。
逻辑器件老化测试主要有两种实现方法：并行和串行，这指的是系统的输入或监测方式。一般来说所有逻辑器件测试系统都用并行方式把大量信号传给器件，但用这种方式进行监测却不能将老化板上的每一个器件分离出来。
确保老化的运行情况与期望相符。通过监测老化板上的每个器件，可在老化一开始时就先更换已经坏了的器件，这样使用者可确保老化板和老化系统按预先设想的状况运行，没有产能上的浪费。
2． 及时对生产工艺作出反馈。器件故障有时直接对应于某个制造工艺或者某生产设备，在故障发生时及时了解信息可立刻解决可能存在的工艺缺陷，避免制造出大量不合格产品。
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王先生
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广东 东莞 常平镇