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镀层厚度分析检测仪

2018/10/10 19:39:15发布65次查看
 产品概述
产品类型: 能量色散x荧光光谱分析设备
产品名称: 镀层厚度分析仪
型   号: iedx-150t  (可同时具备镀液/rohs/成分分析功能)
产品优势
镀层检测,检测层数范围1-6层;检测镀液的元素含量范围为1ppm-99%。全自动操作平台,平台尺寸80x2*75x2*90(x*y*z);激光定w和自动多点测量功能;
超高分辨率:125±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精准,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
产品特征
1. 高性能高精度x荧光光谱仪(xrf)
2. 计算机/ mca(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法adc(模拟数字转换器)
3. multiray. 运用基本参数法(fp)软件,对样品进行准确的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。
mtffp (多层薄膜基本参数法)模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式50987.1 din / iso3497-a1
吸收模式50987.1 din / iso3497-a2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量din 50987.3.3/iso 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用[如:cu/abs等]
双镀层应用[如:ag/pd/zn, au/ni/cu等]
三镀层应用[如:au/ni-p/cu/brass等]
四镀层应用[如:cr/ni/cu/zn/snpb等]
合金镀层应[如:ni-zn/fe sn-ni/abs pd-ni/cu/abs等]
1. multi-ray.、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
multi-ray 金属行业准确定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,金属(8-24 karat) 分析精度可达±0.05kt
multi-ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块

深圳市善时仪器有限公司
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