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天瑞镀层测厚检测仪,电镀层厚度分析仪,膜厚仪

2018/9/30 10:32:53发布55次查看
加工定制类型镀层测厚仪
品牌天瑞型号Thick800A
测量范围0.001-50mm显示方式PC
电源电压220V外形尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mmmm

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。镀层测厚仪采用磁性测厚方法,可无损伤检测磁性金属基体(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
镀层测厚仪的工作原理:
镀层测厚仪是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线只有45-75w左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。
镀层测厚仪的优点介绍:
1. 测量速度快
2. 精度高精度,可达到1-2%
3. 稳定性高
4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
5、覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,x射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
6、x射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号:thick 800a元素分析范围从硫(s)到铀(u)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸: 576(w)×495(d)×545(h) mm样品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h) mm重量:90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和x光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。si-pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

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