元素分析仪|x荧光镀层测厚|镀层测厚仪 x荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪x-strata980用途：x荧光镀层测厚及痕量元素分析仪用来测试元素的含量或镀层的厚度，可分析的元素范围众原子序数16位（s）至92位（u）;进行元素成分分析时，仪器可同步分析25种不同元素的含量。可同时分析5种镀层（基材及4种镀层）/15种元素/含常规元素的修正功能。由iso3497 astm b568和din 50987所认证的进行镀层厚度测试的方法。x荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪x-strata980特征： 1、专业设计的rohs分析界面，检测结果一目了然。 2、强大的数据传输功能（选件） 3、扫描分析及映 射成像功能（选件） 4、程控台（选 件） 5、可变聚焦距离 6、超大样品仓 7、pc与机品的一体化设计 8、电制冷pin探测器，提高测量分辨率 9、行业领先的100瓦x射线管 10、5个初级滤波器，提升信噪比，改善激发效率。 11、多准直器配置，满足不同大小pad位测量。 12、aiti样品底座，大幅降低背景噪音，提高rohs元素的检测下限。 13、方便易用的经验系数法校准软件 14、改进的基本参数法模型。 15、提供经验系数及基本参数的组合分析模型。 16、用户操作界 面包含9种语言，使用方便。

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