- 加工定制：
- 品牌：赛思
- 型号：SEST-S
- 类型：热老化箱
- 材质：
- 温度范围：
- 功率：
- 工作室尺寸：
- 电源：
- 适用范围：
要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。pct最主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。
odels
sest-s
insidedimensionsw x d x h cm
φ22 x33(l)
outside dimensionsw x d x h cm
69x90x63
insidecapacity(liter)
12
internal material
stainless steel#316
external material
secc
temperature range 105℃～132℃
humidity range 75%～100%/105℃～132℃
temperature uniformity ℃
±1.0℃
humidity uniformity %rh
±5%
东莞市赛思检测设备有限公司
崔先生
13602380419
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