at-420型x射线镀层测厚仪采用可编程的x－y工作台，x射线从上往下照射，适合被测物体的编程测量和测试大样品。使用大功率x光管，是一款高校的x荧光测厚仪，测试时间短。  开放式样品腔，可以测量任意大小的物体，特别适用于pcb行业。          最大测镀层数：5层
镀层种类：单金属镀层/合金镀层/无机镀膜        
可测镀层类型：金属镀层       
无机镀膜
可测元素：硫（s）－铀（u）       
最小测量直径：0.5mm
厚度测量范围：轻金属（如ti、cr等）0.05～20um
              中金属（如ni、cu、ag等）0.01～30um
              重金属（如pt、au等）0.005～10um
测试精度：可达纳米级
厚度相对误差：单层<5%，多层5~10%
功耗：150w（仪器主机）
本公司供应无损检测仪器的x射线镀层测厚仪 x荧光光谱仪，品质保证，欢迎洽谈。
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