加工定制否	类型充电式压接机
品牌Sanwa/三和	型号thisis型号
别名别名7084	用途用途8890
最大压接力压接力4874N	行程行程9401mm
外形尺寸外形尺寸8561mm	重量重量6572kg
规格规格7190

确保老化的运行情况与期望相符。通过监测老化板上的每个器件，可在老化一开始时就先更换已经坏了的器件，这样使用者可确保老化板和老化系统按预先设想的状况运行，没有产能上的浪费。
2． 及时对生产工艺作出反馈。器件故障有时直接对应于某个制造工艺或者某生产设备，在故障发生时及时了解信息可立刻解决可能存在的工艺缺陷，避免制造出大量不合格产品。
老化测试系统可归为两大类：逻辑器件和存储器。逻辑器件测试系统又可分为两类：并行和串行；同样，存储器测试系统也可分为两类：非易失性和易失性。
存储器老化
存储器老化和测试的线路实现起来相对简单一些，所有器件通过统一方式写入，然后单独选中每个器件，将其存入的数据读出并与原来的值对照。由于具有控制和数据采集软件以及故障数据评估报告算法，所以存储器老化测试对生产商非常有用。
大多数存储器件支持多个选通引脚，因而老化测试系统采用簇方式读回数据。某些系统具有很宽的数据总线，每一簇可同时读取多个器件，再由电脑主机或类似的机器对器件进行划分。增加老化板上的并行信号数量可提高速度，减少同一条并行信号线所连器件数，并且降低板子和器件的负载特性。
目前市面上有多种老化测试系统实现方法，除了老化系统生产厂商制造的通用型产品外，半导体厂商也在内部开发了一些供他们自己使用的此类系统。大多数系统都采用电脑作主机，用于数据采集和电路基本控制，而一些非计算机系统只能用led作为状态指示器，需要人工来收集数据。
为了能对老化板上的每一器件作独立测试，必须要在老化系统控制下将每个器件与其他器件进行电性隔离。存储器件非常适合于这种场合，因为它们被设计成按簇方式使用并带有多路选通信号，而逻辑器件则可能无法使用选通信号，这使得在老化系统中设计通用逻辑测试会更难一些。因此针对不同器件类型存在不同的逻辑老化系统是很正常的。

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王先生
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