加工定制是	类型镀层测厚仪
品牌天瑞	型号THICK800A
测量范围0.001－40mm	显示方式PC
电源电压220V	外形尺寸576(W)×495(D)×545(H) mmmm
应用领域金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检

x荧光测厚仪的原理：
若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即x-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即特定的x-射线能量与原子序间的关系。k辐射较l辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。 
特定的x-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的x-射线可由其后的鉴别电路记录。 
使用x-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到x-射线的照射。此时，特定x-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量x-射线的强度可得到镀膜的厚度。 
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：thick 800a元素分析范围从硫(s)到铀（u）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm样品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。si-pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

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