氧化层模式：
可选。
多层模式：
可选。
厚度范围
0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围
0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择）
低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围
标准：2.0 mhz～30 mhz（-3 db）
高穿透（可选项）：
0.50 mhz～30 mhz（-3 db）
一般规格
工作温度范围
-10°c～50°c
键区
密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
机壳
防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合ip67标准。
38dl plus测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38dl plus测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
户外显示设置，a扫描模式                      室内显示设置，b扫描模式
•    可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
•    可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
•    内置和外置microsd存储卡。
•    usb和rs-232通讯端口。
•    可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
•    可连接计算机或显示器的vga输出。
•    默认或自定义双晶探头设置。
•    默认或自定义单晶探头设置。
•    密码保护功能可以锁住仪器的功能。
 

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