美国博曼(bowman)即时分析仪代表了镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软体和硬体领域的新进步提高了我们x射线系列产品的性能。美国博曼(bowman)能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、钖等）和其它薄镀层。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以以我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。
像我们所有的仪器一样，美国博曼(bowman)由金东霖提供技术支持，我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。
美国博曼(bowman)桌上型x射线膜厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单
可测元素范围：钛（ti） – 铀（u）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：dell品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
检测五金电镀,线路板,半导体,电子元件,镀层厚度
公司名称：深圳市金东霖科技有限公司
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