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供应LJZ型双列集成电路老化测试插座

2018/7/11 15:25:25发布129次查看

ljz型双列集成电路老化测试插座 该系列插座适用于dip封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格; ljz-14、16、18、24、28、40 主要技术指标; 间距;2.54mm 环境温度;-55℃-+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;dc500v 单脚插入力;≤0.2kg弹片金层厚度;1um镍2um金

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