| 加工定制否 | 品牌天瑞 |
| 型号XULM/XDL-B | 类型多元素分析仪器 |
| 测试范围元素17-92 | 测量时间自己调整 |
| 测量精度误差不大 | 电源电压220VHZ |
| 适用范围金属元素 |
我公司专业维修x-ray 膜厚仪 xulm-xym针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利x－射线光学镜片，创新的x-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数nm的镀层
深圳市锦霖公司一直服务于pcb 厂商、五金电镀、连接器、lcd、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域膜厚仪维修。我们提供高质量的产品和***的服务都得到客户的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。 联系人：王生：13825264066
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