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mjld型法向发射率测量装置 产品介绍 mjld型法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳法向发射率。配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创，填补国内测量材料太阳法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。 主要用途 测量材料表面的法向发射特性。
技术指标
法向发射率 ◆测量范围：0.0 5～0.9 9 ◆工作温度范围：室温～100℃ ◆测量不确定度：当εn＞0.7 为±1.5％；当εn＜0.2 为±5％；其余为2％ ◆探测器：平面热电堆 ◆峰值波长：8.4～11μm
北京蒙骏力达科技有限公司
马皞
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