加工定制是	品牌大塚电子
型号ELSZ-2000系列	类型激光粒度仪
测量范围0.3nm-10um	测量准确度参考说明书%
测量重复性±3%%	测量时间1s

激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试，界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量，-200到200mv间进行界达电位测量。
产品特点
l 通过***新型的高感度apd提高感光度，成功的缩短测试时间
l 搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性，相变温度。
l 可测量0~90摄氏度宽阔的温度范围
l 增加了大范围分子量测定及解析功能
l 可测量悬浊的高浓度样本粒径，界达电位
l 对应小尺寸样本平板界达电位测量
应用
l 纳米生物，医药领域
l 纳米材料，新机能性材料领域
l 食品，化妆品领域
l 高分子，化学工业领域
l 精密陶瓷，颜料工业领域
l 半导体领域
elsz规格表
界达电位(zs,z)
粒径(zs,s)
分子量(zs,z)
量测原理
电泳光散射法(laser doppler)
动态光散射法(dls)
静态光散射法(sls)
光学系统
外差法光学系统
等差法光学系统
双雷射光源
半导体雷射(660 nm, 30 mw)
半导体雷射(660 nm, 70 mw)
感光组件
高感度apd
样品容器
标准矩形流道容器
四角形样品容器
高浓度容器
量测范围
±200 mv
0.6nm~10μm
360 ~20000000 mw
量测浓度
0.001~ 40%
0.00001~ 40%
-
量测样品型式
液态样品
平面及薄膜状固态表面
液态样品
液态样品
温控
0~90℃ (分辨率0.1℃)
软硬件功能
固态样品界达电位量测
(样品大小 15mm*35mm)
stage可动扫描水平面位移界达电位解析
(smoluchowski公式, huckel公式)
电泳解析(森&冈本公式)
ph滴定解析(等电点解析)
界达电位迭图功能
平均粒径解析(cumulant法) 粒度分布解析
(marquardt法/nnls法
contin法/unimodal法)
stage可动改变量测点逆函数&残差显示功能粒径监控功能
粒径显示范围(0.1 nm~106nm)
 
分子量解析(debye法) 第二维里系数
惯性半径补正功能
自动滴定仪
ph 1~13
强酸/强碱/添加剂三管独立注射滴定分辨率 0.1μl
滴定模式添加剂模式循环模式
 
-
电源
100 v ± 10 v, 50/60 hz, 250 va

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