描述：高度仪用于测量空间点位相对地面高度的仪器，一次测量操作即可实现垂直度及直线度检测、动态测量。测高仪为所有的一维测量项目提供最佳的解决方案，二维高度测量仪功能更是无与伦比，其性能和界面更是极至。应用于在线或批量检测。
高度仪用于测量空间点位相对地面高度的仪器，分为一维，二维测高仪。测量高度、厚度、槽宽、
内外孔径、孔距及最高点、最低点、角度等。
二维测高仪是一个模组化设计系统，故用户可根据使用要求，选购所需要的部分。
操作者能借助内装电子泵产生的气垫，轻快地使测高仪在平面上移动。
被测值即刻在控制台上显示、无需操作者作费时的人为运算。
可作1维测量、2维测量、角度测量。常用行程有：600测高仪，350高度仪，1000的等。
长度标准采用光栅。
为了保证仪器精度长期不变，测量头的自动装置和导轨系统是相互分开的悬挂式。
不论测高度，还是测垂直度、直线度，对系统误差均进行修正，从而提高了测量精度。
可在内置打印机上打印，也可输出到外接打印机在a4纸上打印。
测圆表面时，可自动搜索到转折点。
测头直径值自动补偿，即可作补偿测头直径值的测量。
测量时也可表示链式尺寸。
技术参数：
型号
tesa micro-hite
行程
mm
350
600
900
测量范围
mm
365
615
920
配标准附件
mm
520
770
1075
最大允许误差
mm/s
(2+1.5l)μm,     (l单位为米/l in m)
重复性(带标准附件)
μm
平面测量时2s≤0.5μm   孔径测量时 2s≤1μm
运动速度
mm/s
600 mm/s(手动) – 30 mm/s(机动）
触测速度
mm/s
7.5/15
7.5/15
7.5/15
测量力
n(牛顿)
1
1
1
机械垂直度
μm
5
7
9
主机重量
kg
33
38
45
充电一次使用时间
hours
12小时/ 12

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杨先生
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