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供应SOP封装集成电路老化测试夹具

2018/6/12 11:14:29发布132次查看
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sop封装集成电路老化测试夹具(ic测试治具) 该系列夹具适用于sop封装的片状集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验 作连结之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯。 产品型号及规格; sop-8 sop-16 主要技术指标; 间距;1.27mm 环境温度;-55℃-+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;dc500v 弹片金层厚度;2umau:lu(镍金)

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