- 加工定制：否
- 品牌：其他
- 型号：FT-17
- 测量范围：
- 测量精度：
- 外形尺寸：
- 用途：
- 标准装箱数：
- 长度：
- 放大率：
- 工作温度：
- 十字线：
- 视野：
- 物镜直径：
- 序列号：
- 重量：
- 规格：
nidek晶片平坦/翘曲度测量仪si/ge/gaas/inp/sic/lt/ln)ft-17 一，ft-17是∮130mm以下各类晶片平坦度测试装置，该装置采用激光斜射干涉技术
二，可设定1，2，3，4，5μm/fringe的干涉条纹。
三，接入标准的解析装置，以表示各类晶片的平面度。测定结果，可用各种测定值，等高线图，俯视图，断面图等图表示。
四，无须校准
五，以专用解析装置控制程序使操作变得容易
技术参数：
1，测定方法：光波干涉方法（倾斜入射）
2，光源：半导体激光（655nm，3mw）
3，样片尺寸：∮130mm以下，但是平坦度在∮100mm以下
4，样片厚度：2000um以下（平坦度测定250um-1000um以下）但是承受台*10mm、其他厚度请以其他方式商谈
5，样片的种类：晶片（硅、化合物、酸化物、玻璃）金属片、磁碟（铝、玻璃）模具等 镜面及非镜面（除反射率低的非镜面）
6，样片的倾斜角度：比垂直向前倾斜8度
7，干涉计设定感度：1，2，3，4，5μm/线距
8，测定范围：线距感光的30倍（线距状况、有比镜片尺寸等30倍以下的场合）
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深圳市宝安区沙井大通仪器设备经营部
文晓
15090105460
深圳宝安沙井