cmi900x射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，pcb，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。 主要特点 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：ti22 – u92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能测量范围宽 nist认证的标准片 全球服务及支持 技术参数 主要规格 规格描述 x射线激发系统 垂直上照式x射线光学系统 空冷式微聚焦型x射线管，be窗 标准靶材：w 靶；任选靶材：w、mo、ag等 功率：50w(4-50kv，0-1.0ma)－标准 75w(4-50kv，0-1.5ma)－任选 装备有安全防射线光闸 二次x射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 cmi900 cmi950 －样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 －最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －xy轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －z轴程控移动高度 43.18mm xyz程控时，152.4mm xy轴手动时，269.2mm－xyz三轴控制方式 多种控制方式任选：xyz三轴程序控制、xy轴手动控制和z轴程序控制、xyz三轴手动控制 －样品观察系统 高分辨彩色ccd观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 ibm计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统：windows2000中文平台分析软件包：smartlink fp软件包 －测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 －基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：ti22 – u92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测，如au karat评价 材料和合金元素分析， 材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 －调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

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