产品名称：镀层测厚仪器产品编号： 描述：       e3是一款通用型能量色散型x射线荧光光谱仪（edxrf)；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国edxrf前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。
镀层测厚仪器：
●外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
●样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
●仪器重量：50kg
●供电电源：ac220v/ 50hz
●最大功率：330w
●工作温度：15-30℃
●相对湿度：≤85%，不结露
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽x射线
● 辐射标志警示           
● 仪器经权威第三方检测，x射线剂量率完全符合gb18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● x射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试
● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率
● 最小光斑0.1mm，可针对各种样品中的小测试点精确定位，避免材质干扰，测量结果更准确
● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计
● 电路系统符合emc、fcc测试标准
软件技术
● 分析元素：na~u之间元素
● 分析时间：90秒
● 界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作
● 数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全
● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度
● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

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深圳市禾苗分析仪器有限公司
张水生
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