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供应LED快速EL特性测试系统

2018/5/29 10:23:25发布109次查看
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  • 类型:其他
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led快速el特性测试系统
m2442s-9a
1.2〞gan晶圆/外延片测试;测试vf、亮度、波长、半波宽等
2.led wafer平均分布9点位置测量,产线中端qc最佳利器
3.自动/半自动测量模式,30秒内自动测试完9点之数据
4.搭配台湾维明led测试机,光电参数全部测量
5.软件功能强大,自动保存设定参数与测量数据,光谱图等6.大面积探针防止人工点铟ball误差,保护光罩防止背景光
误差
7.模块化结构,可灵活搭配客户自备的led测试仪进行整合

深圳市傲内电子有限公司
史春林
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